LTX-CREDENCE Synchro II HT是LTX-CREDENCE开发的用于测试集成电路（IC）的高通量最终测试设备。该系统提供了高度的性能和灵活性,以满足当今日益复杂的IC设计的测试要求。它旨在降低成本并提高测试产品的准确性。该单元的核心是一个高度先进的结构测试平台Synchro III。该平台结合了专利模式同步和模式适应技术，提供了灵活性，并能够快速切换测试模式，以便准确和可靠地测试最广泛的IC。该机器还具有几种功能强大的故障覆盖工具,可以快速高效地测试复杂的设计。Synchro II工具最多支持五个测试卡,每个测试卡最多支持32个IC。这些卡由测试执行软件包控制,该软件包提供自动校准和设置,以加快测试速度。该资产还包括高度可靠的探测站和探测卡,它们旨在提高吞吐量和准确性,同时保护探测仪免受损坏。此外,该软件还提供了大量可定制的诊断和报告工具,用于快速识别和隔离测试故障。Synchro II HT模型是一种通用可靠的测试设备,能够测试各种产品,如微处理器、存储器以及模拟和溷合信号设备。它提供高级测试功能,例如绑定和硬件模拟,使用户能够获得对测试结果的宝贵见解。该系统能够测试最先进的技术，包括纳米设计和DRAM和Flash等内存技术。LTX-CREDENCE Synchro II HT旨在提供功能强大但灵活的测试解决方桉,适合各种测试要求。该单元能够在用户干预最少的情况下快速适应测试要求的变化，从而降低了测试的总成本。此外,该机器易于使用,并提供全面的客户支持。由于其特性和功能,Synchro II HT正成为寻求可靠、经济高效测试工具的企业的热门选择。