LTX-CREDENCE Synchro II HT是半导体行业最终测试的下一代全球领先者。这是一个高吞吐量的自动化测试解决方桉,旨在满足集成电路（IC）制造环境的严格要求。Synchro II HT旨在在不影响速度和准确性的情况下处理困难的测试难题。它支持最高级别的测试,包括并行多通道应用程序、边界扫描AVBT（自动可视基础测试）及其领先的高吞吐量功能。LTX-CREDENCE Synchro II HT使用分布式测试模块运行,其中包含嵌入式处理器和增强的软件接口。这有助于简化测试过程设置和管理的复杂性,减少所需的操作员干预。这些过程的自动化也减少了测试过程控制所花费的时间和资源。总体而言,Synchro II HT提供了卓越的测试覆盖范围,同时还满足了客户的高级测试需求。该系统允许快速、准确地设置测试配置,从而能够收集、分析丝网数据,并将其与设备的测试结果集成在一起。该系统还支持同时进行多通道测试、核心电压和外部夹具/夹具连接。这允许在执行测试时最小化操作员交互,因为系统能够在一个周期内控制和检测多达八个通道输出。此外，LTX-CREDENCE Synchro II HT还能够进行BIST（内置自检），允许更高级别的性能和自动化的高级测试。这样可以在多个引脚上进行单周期测试,并行执行测试。Synchro II HT支持广泛的功能测试,使其成为所有具有高速和复杂测试要求的设备的理想解决方桉。它能够处理数字、溷合信号、射频和模拟的测试应用。总体而言，LTX-CREDENCE Synchro II HT是现代半导体制造的综合测试解决方桉。可以快速准确地设置其高级测试功能,从而在较短的时间内提供准确的性能结果。这使得它非常适合高吞吐量和复杂的测试环境。