TERADYNE/EAGLE LSI 5 XP/DE是一种高通量的最终测试设备,旨在为测试硬逻辑集成电路和软逻辑集成电路提供生产级可靠性。该系统旨在提供一个高效可靠的平台,用于测试复杂的IC和各种其他设备,包括微处理器、视频/图形处理器、ASIC、内存等。该单元提供多种测试资源,包括目标测试单元（TTC）、测试人员、动态机器控制器（DSC）、测试仪器（TI）和测试算法。TTC专为快速高效地支持复杂的IC测试模式而设计。TTC使工具能够实时扫描、比较、计算和控制测试信号。它还包括一个允许资产同时控制多达32个设备的高级处理器。DSC优化了复杂测试要求的信号处理和成本。它调制测试信号波形并以同步方式将其传送到测试接口。TI是必要的资源,使模型能够收集所获取的数据并根据结果做出决策。此工具包提供了一个高效的工具,用于以准确和一致的方式评估测试缺陷和产品特性。测试算法提供了一个框架，设备可以在其中创建用于测试复杂IC的可靠测试程序。这些算法生成属性列表，根据设计结构IC，选择最优测试套件部分测试IC节点并生成测试覆盖范围度量。EAGLE LSI 5 XP/DE提供了高效的最终测试和故障覆盖所需的必要资源和工具。该系统是以快速、准确、经济高效和可靠的方式测试复杂IC的理想平台。