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TERADYNE J750 E 半导体测试机

库存状态:现货

TERADYNE J750 E是一种功能强大且可靠的自动化测试设备(ATE)设备,旨在为复杂的电子设备提供高速、准确和精确的测量和验证。该系统配备了各种先进的特性和功能,有助于确保生产的产品质量最高,没有操作缺陷。TERADYNE J750E配备了高效的基于图像的矢量驱动单元,能够精确控制探针的定位和移动,以测试高速和高引脚数电子设备。向量驱动器机器允许同时访问多个目标,从而使工具能够快速高效地完成测试过程。此资产还提供高级用户界面,允许用户轻松配置和调整测试设置和参数。用户界面包括一个直观的图形用户界面,它提供了所有测试的交互式视觉表示,因此用户可以快速高效地获得测试结果。该界面还允许用户执行高级脱机诊断,这有助于减少诊断问题所需的时间,并降低非功能性测试成本。该模型中包含的ETPS软件为用户提供了一整套诊断、测试和报告工具,这些工具旨在检测和隔离被测试设备中的任何错误。该软件具有高度可配置性,能够使用不同的测试方法处理不同类型的测试。这种全面的软件解决方桉可确保设备能够测试不同类型的复杂程度不同的设备。J 750 E的硬件旨在满足现场要求最苛刻的应用程序的要求。该系统配备了可靠的德州仪器C67处理器。该处理器具有极高的处理速度,设计用于以最小的功耗处理各种应用程序。J750E提供了广泛的通信选项。它配备了以太网端口,使用户能够轻松地将单元集成到他们的组织网络中。另外,机器还可以连接到外部测试人员,允许用户执行产品编程、数据分析和测试程序自动化等任务。J750 E是一种先进、高效和可靠的自动化测试设备工具,旨在确保测试设备的最高质量。这项资产配备了先进的硬件和软件,使其能够精确、精确地测试甚至最复杂、最复杂的设备。此模型适用于各种测试应用程序,并为用户提供一套全面的诊断、测试和报告工具,以帮助确保设备的最佳结果。

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