TERADYNE Frame for J750是一种多功能、自动化的测试设备,用于最终检查电子板、表面安装装置、组件、芯片和溷合动力车。该J750包含了各种技术,如电路内、边界扫描和矢量测试。J750框架具有模块化结构,能够配置最多27个测试点的系统。该系统配置有高速的双传输输送机,能够控制封装和配置文件,最大可达11.5 "x 11.5"。该单元还有两个独立控制的XYZ级，以及两个带有车载真空和手动键控的隔离测试部分模块。该机采用多种自动运行模式设计，以便快速实现测试协议。测试协议是针对正在测试的设备及其测试目标量身定制的。可以根据测试要求同时或按顺序进行测试。TERADYNE Frame for J750提供了使用各种适配器来容纳测试目标夹具的灵活性。该工具具有集成的测试覆盖算法,可减少测试的周期时间,并针对结算时间自动进行优化。开放体系结构框架还允许定制现有流程以及测试协议和触发器。该资产具有直观的用户界面,使操作员能够轻松启动和管理测试。该模型还提供实时数据分析,以确定质量和性能指标。所有测试数据都会跟踪并存储在J750上,从而提供报告和分析原始数据的能力。J750框架非常适合制造环境,因为它设计用于三类洁净室环境。该设备还可扩展以满足低批量生产需求。它易于维护和极其可靠，导致整体优越的测试系统。