TERADYNE J750 EX是一种全自动、高吞吐量的最终测试设备,旨在简化电子产品的测试和生产过程。TERADYNE J750EX最大测试头容量为6个行业标准测试访问点（TAP）,以高效的方式提供高达每小时720,000个测试点的测试速率。J 750 EX硬件系统由几个不同的组件组成。首先是多层机箱单元,旨在容纳该单元的组件。机箱还包含一个用于为外围设备供电的低压、高功率输出电源,以及一个适用于在极低功率水平下测试的超高压（UHV）电源。此列表中的下一个是测试平台模块,它是一个模块化平台,具有测试适配器、固定设备和高速数据采集接口。最后,机器还包括一个多测试控制器（MTC）工具,用于控制资产的所有测试活动。J750EX软件包旨在促进高效的数据收集和分析。控制平台具有强大的图形用户界面（GUI）和各种自动测试工具,可满足任何测试需求。此外,该软件还能够与其他TERADYNE系统互连,使工程师能够从任何位置访问关键数据。该模型能够根据需求执行各种测试。它可以进行电路内测试、边界扫描测试和功能测试,以及旨在确保产品为生产线做好准备的"烧入"测试。J750 EX还可以提供多达8条数字线路和24条模拟线路的测试端口功能,从而提供与多个测试协议的灵活性和兼容性。总体而言,TERADYNE J 750 EX是一种强大的、完全集成的测试设备,用于工业和消费电子产品的生产级最终测试。该系统能够快速有效地确认电子产品的质量和性能，其模块化设计和可变测试协议使其成为一种成本效益高、可靠的解决方桉。