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NEXTEST Maverick I PT 半导体测试机

库存状态:现货

NEXTEST/TERADYNE Maverick I PT是一种综合性的最终测试设备,旨在帮助减少消费电子产品制造中的测试时间。凭借其先进的AutoTester技术,NEXTEST Maverick I PT为消费电子产品提供了精确的测试覆盖范围和更快的上市时间。该系统配有集成的ATE控制器、各种固定选项以及众多的测试资源,使用户能够执行严格的最终测试操作。来自NEXTEST的TERADYNE Maverick I PT具有先进的信号排序算法,可帮助优化测试时间并最大化测试覆盖范围。该单元还具有SMART Serial ATE功能,使其能够识别电信号的快速修改并相应调整测试。该机器还附带了一个膨胀的测试库,其中包括各种测试元素,如针脚测试、DCV测试、红外扫描、功能测试、参数测试、高速模型测试、ESS测试和安全测试。由于这些访问权限,Maverick I PT提高了生产产量并降低了成本。该工具还具有高密度的可扩展体系结构,使工程师能够快速配置测试平台以满足特定的生产需求。此外,NEXTEST/TERADYNE Maverick I PT配备了广泛的PCB支持选项,如无焊接夹具、配对探针对、插座测试点和Turnkey SliderProbe测试,使其适用于广泛的消费电子产品。此外,NEXTEST Maverick I PT具有广泛的边界扫描支持,使用户无需昂贵的硬件或软件升级即可即时修改生产测试。利用这些功能,用户可以自动进行测试程序修改,这意味着他们不再需要依靠手动、耗时的调整。此外,TERADYNE Maverick I PT还拥有直观的用户界面,使用户能够轻松监控、调试和分析测试结果。在其帮助下,工程师可以快速识别生产线中的故障和缺陷,并相应调整测试。Maverick I PT还附带了扫描-测试分析、分析-while-测试功能和车载实时时钟等多项诊断功能,使工程师能够进一步提高测试结果的可靠性和效率。NEXTEST/TERADYNE Maverick I PT是优化生产测试时间、确保消费电子产品生产效率的理想选择。NEXTEST Maverick I PT拥有先进的测试技术、多样的固定选项和强大的测试库,是希望减少测试时间、提高产品产量和降低成本的制造商的理想选择。

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