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TERADYNE J750 半导体测试机

库存状态:现货

TERADYNE J750 Final Test Equipment是最终测试市场的领先者,拥有最高的吞吐量、最大的可持续性和最快的周转时间。TERADYNE J 750旨在快速高效地提供可靠的测试结果。J750允许检测到各种故障,直至组件级别,并具有业界无法比拟的故障覆盖范围,以及通用的测试程序和故障覆盖范围。J 750具有广泛的功能,使其能够编程为使用各种物理格式、测试条件和逻辑结构化测试进行测试。TERADYNE J750支持系统中包含的各种功能,增强了对可扩展性和定制性的支持。随附的可扩展测试界面提供了最高级别的可扩展性和成本效益,因此用户可以为每个测试程序选择最合适的测试和调试解决方桉。TERADYNE J 750提供一流的刺激性能,结合高带宽交换,可以更快、更准确地获取更多的测试数据,从而以更低的测试成本实现更好的故障覆盖。J750具有简化的用户界面,允许用户轻松创建自定义测试套件,从而最大限度地提高任何测试程序的效率。这使用户能够快速添加新的测试并快速诊断不常见的故障,从而提高故障解决效率并改善周转时间。J 750的高级单元架构包括4路集群测试头NSI和快速测试机,提供无缝刺激和切换集成,以及工具内更大的模块化。NSI提供了自动化的测试程序开发和管理界面以及广泛的故障覆盖,而Quick Test Asset提供了快速测试功能,以最大程度地减少总体测试时间并减少设计周期。TERADYNE J750还包括一个嵌入式低成本、高价值的诊断解决方桉集和测试程序开发软件套件,该套件可最大化诊断覆盖范围,提供更高水平的可扩展性,并代表测试总体拥有成本的重大改进。TERADYNE J 750最终测试模型在测试和调试方面处于业界领先地位,为用户提供最高水平的吞吐量、可持续性和周转时间,同时始终提供可靠、准确的测试结果。

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