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TERADYNE J750 半导体测试机

库存状态:现货

TERADYNE J750是一种现代化的最终测试设备,旨在满足高批量、关键任务生产测试的需求。它拥有同类产品中可用的最高吞吐量,每小时最多支持100块主板,每块主板0.15秒。其结果的可靠性和准确性使其非常适合测试需要精度和稳定性的应用程序,例如汽车、航空航天、通信和计算设备。TERADYNE J 750为高品质的解析度而设计,测试能力广泛。它具有24个多功能I/O引脚,可全面测试各种设备,包括内存、系统控制器、通信提供商、电源供应商等。此外,与前代产品相比,它的高密度体系结构提供了更高的性能,从而实现了更快的数据记录、更快的测试速度和更好的调试功能。J750带有非常通用的软件,使用户能够根据自己的特定要求自定义测试。这样可以更轻松地与其他测试设备集成,并在生产的所有阶段保持一致的测试过程。它还支持多种测试语言,包括LABVIEW、GUIDE、TSSCAN、Verilog、C、C++等。这样可以更轻松地与其他测试设备集成,并在生产的所有阶段保持一致的测试过程。制造商可以通过使用可选的Dual Board Handler提高效率和准确性,该Dual Board Handler允许在装载另一块主板时测试一块主板。这样可以确保更快的周转时间以及更准确和一致的结果。此外,该装置能够测试装置内的可变电阻元件,从而提高安全性、可靠性和准确性。J 750由汽车电子理事会根据AEC-Q100标准进行认证和验证。这证明了它是一台可靠的机器,并提高了客户的接受度,使得测试对于几乎任何类型的应用程序都更快、更简单。总之,TERADYNE J750是一种现代化、高效、可靠的最终测试工具,设计用于大批量生产测试。其显着的脉冲通道计数和广泛的测试能力为制造商提供了无与伦比的性能、更快的周转时间和更高的准确性。此外,它的各种软件选项使您能够轻松地与其他测试设备集成,并在生产的所有阶段保持高效、一致的测试过程。

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