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TERADYNE J750 半导体测试机

库存状态:现货

TERADYNE J750是一种最终测试设备,旨在以最低的测试成本实现最大的测试覆盖范围。它具有模块化、可扩展的体系结构,允许高容量和灵活性来测试各种产品。TERADYNE J 750包含易于使用的量子机接口(QMI)软件,使用户能够快速轻松地管理测试解决方桉。J750是一个高速、高通量的测试系统,能够以高达160兆块/秒(MHz)的速率测试高含量设备。它有一个可选的机架单元,可以在很大的空间内进行测试。自动化机器为测试开发提供了一个集成平台,其中包括一种高速测试模式,能够运行高达6.5 GHz的针针测试。它还包括高级热控制、快速脉冲编程以及可配置的功率和电流限制设置。这使得J 750可以自动适应测试应用。灵活、可配置的TERADYNE J750在设计时考虑了测试人员,它具有多种测试选项,从单个站点到多个站点,从数十万个测试到数百万个测试。它还支持标准测试开发工具和第三方软件平台。QMI软件允许用户创建自定义测试、查看测试数据以及验证和验证设备。TERADYNE J 750包括开放测试工具(OTS),它使用户能够更改本地测试程序并快速分析结果,比传统测试解决方桉更灵活。OTS还支持即时测试设置和重新配置。J750的直观、符合人体工程学的设计减少了工作流中断,并最大限度地缩短了测试和调试过程所需的上市时间。J 750的多重特性简化了测试解决方桉的管理过程,提高了整体效率和有效性。TERADYNE J750还可以与现有的蓝牙和WiFi网络集成,为设备表征技术提供更多选项。可通过堆迭模块进行扩展,以满足大型测试卷的要求。TERADYNE J 750具有广泛的直接连接和各种数字I/O功能,适用于许多不同的测试环境。J750是理想的最终测试资产,提供单站点解决方桉,允许用户快速灵活地测量和测试多个设备,而不会影响性能或质量。

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