ADVANTEST T 5375最终测试设备是一种可靠高效的测试系统,用于检查和验证集成电路、板级设备以及任何需要测试验证的组件。它具有多种高精度和快速性能选项。测试单元提供了一个用于快速、灵活、准确的设备测试的模块化平台。它能够测试各种技术,如小型轮廓晶体管（SOI）、球栅阵列（BGA）和多级芯片刻度封装（MLCCS）。它还具有一整套诊断实用程序和自动化测试功能。ADVANTEST T5375采用高速通用接口协议（UIP）构建,使其能够与各种外部设备（如自动测试设备（ATE）、电路测试（ICT）设备和集成开发平台进行接口。它还为性能优化提供了可自定义的探针。其灵活的环境支持硬件在环（HIL）和软件在环（SIL）测试的自动化和定制。这些器件的阻抗模式为集成电路提供了先进的功能和电气测试。这样可以灵活地调整探测器的频率、扫描时间、测试矢量和电压设置。自动测试模式生成器（ATPG）允许生成可轻松加载到机器中的自定义测试模式,以便进行更多的黑匣子级别故障排除。T 5375包括一个灵活的校准工具设计机械可重复性和准确性。校准资产可用于调整各种测试设置的参数。它有助于确保测试人员为所有正在测试的设备提供精确的结果。T5375采用浮动电源、防护配件、温度轮廓和其他防护措施等优越的安全措施,以防止过电压和电涌。ADVANTEST T 5375是模型级模拟和功能测试的理想选择,适用于汽车、移动设备、消费电子、工业等要求很高的应用领域。它将高速性能与精度和准确性相结合，用于可靠的设备测试。ADVANTEST T5375作为一种高效、经济高效的测试设备,已被制造商和工程师广泛用于各种不同的测试应用。