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TERADYNE J750 E 半导体测试机

库存状态:现货

TERADYNE J750 E是用于测试各种不同电路和组件的最终测试设备。它适用于各种应用,从汽车和消费电子到医疗和其他应用,并且能够进行快速和准确的测试。TERADYNE J750E的高级功能包括高吞吐量容量,每小时最多可测试8500个端点,具体取决于每个主板的测试针脚和部件数量。此外,系统能够快速循环通过各种测试点,并可用于各种不同的测试,从功能测试、边界扫描测试和测试覆盖范围报告到直流参数扫描。该单元还包括用于电路内/功能故障分析的功能以及高频电路表征。J 750 E也有一些独特的特性,例如一个可以直接对机器进行编程和控制的集成测试单元控制器,以及一个可选的高速边界扫描-I/O控制器。此外,它还配备了基于Windows的软件工具,该工具直观易用。该资产既灵活又可靠,还能够支持多种测试夹具配置,使其适合任何类型的测试环境。此外,它还包括一系列自动化功能,如智能测试程序生成和调试选项,简化了测试过程,使其更快、更高效。总体而言,J750E是一个适用于一系列应用的高效、准确的最终测试模型。凭借其先进的特性,它可以用于快速和准确的测试,并且由于它的灵活性和可靠性,它可以在任何测试环境中使用。

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