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TERADYNE J750 E 半导体测试机

库存状态:现货

TERADYNE J750 E是TERADYNE提供的菜单驱动、灵活且坚固的最终测试设备。该系统能够同时测试多个设备,同时提供实时设备监控。这使得它适用于大批量生产测试和器件表征。TERADYNE J750E单元包含一个基于PC的快速多核处理器、工业主板、千兆位以太网连接以及多种设备类型的接口。该机器便于同时测试组件及其功能。强大的图形界面可以轻松浏览多个测试选项,只需按一下按钮即可。该工具支持一系列测试方法,如功能测试、串行IO测试、边界扫描,以及电压、参数和光学测量。模型的板载内存资产以及测试项的缓冲能力有助于在断电时保存测试结果。这也有助于确保在较长的设计周期中进行不中断的测试。该设备还能够快速、轻松地传输数据以及生成的报告,然后可用于设备特性和分析。还可以使用路径控制功能来增强系统的整体性能。此功能允许测试人员创建通过电路板的路径,从而提高生产过程的速度。J 750 E具有强大的自学软件,可帮助测试人员轻松、轻松地配置测试参数。该单元还能够处理所有类型的制造环境,从NPI(新产品介绍)到生产现场测试。总体而言,J750E是一台高度集成的机器,因此非常适合进行大批量生产测试。灵活而坚固的工具可用于快速测试不同的设备类型,而不会造成任何中断。此外,资产强大的图形界面和路径控制功能允许更快的生产周期。

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