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TERADYNE J750 半导体测试机

库存状态:现货

TERADYNE J750是为高度自动化的制造过程设计的最终测试系统。它能够对复杂的电子电路和组件进行可靠和可重复的测试。该系统是一种快速、专用的测试仪,占地面积很小,可用于各种制造设置。TERADYNE J 750利用创新的多轴测试头以最小的头部移动实现最大的通用性。这允许测试具有多种针脚数量和足迹的各种组件。单一软件包允许用户配置测试并轻松编程各种功能。板载内存和多核处理器可实现快速PCI-e速度,使其能够测试高速设备。为了确保最大程度的制造灵活性,J750包括各种自动化选项。自动化的测试头和托盘处理控制器,包括智能采摘和放置测试头和板激励,使其能够轻松集成到现有的自动化生产线中。一系列灵活的数据格式允许精确的测试数据收集和可视化,总吞吐量高达每秒50次测试。J 750还擅长通用测试,提供可靠、高效的数据收集。测试可以通过预先编程的故障检测路径进行即时验证。高级电源管理功能允许以尽可能最有效的方式执行测试,而停机时间最少。最后,TERADYNE J750有一套全面的服务和支持支持,确保接受和遵守任何行业标准或客户期望。从培训到安装,再到现场技术和维护支持,TERADYNE J 750旨在提供一流的性能和可靠性。TERADYNE拥有20多年的经验,在以合理的价格提供高质量的测试系统方面已成为业界的领导者。J750是一个非常可靠、经济高效的自动化测试要求解决方桉。

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