ADVANTEST T 5383测试设备是一个最终测试系统,旨在为当今的高性能集成电路（IC）提供测试覆盖范围和产量优化。配备高速信号完整性、测试时间长、吞吐量精度高。它支持功能测试、RF测试、Hall Effect测试和Delay测试等多种测试应用。该单元由四个主要模块组成，包括测试头、控制器、电源单元和测试机控制器。测试头装有测试探头,用于在测试期间访问设备的IO引脚。它还包含用于测量设备特定电磁特性的高速磁测量工具。控制器包含高端数据采集模块，有助于获取有关被测设备的全面、准确的数据。电源单元负责提供脉冲功率,用于在测试期间驱动设备。最后，测试工具控制器充当其他模块之间的桥梁，以确保测试过程的集成和系统。ADVANTEST T5383测试资产提供模块化和灵活性,并具有扩展测试功能以及测量和监视功能的选项。它配备了强大的嵌入式处理体系结构，可以快速捕获信号，同时还能提供高速信号完整性。此外,其先进的基于条件的分析工具（CBA-Tool）允许用户灵活地优化产量和报告功能。最后，提出了一种动态自适应扫描技术，进一步提高了测试覆盖率和生产精度。它能够即时捕获信号条件,同时提供简单的设置以实现更高的可扩展性。DAS功能还包括高级缺陷分析模型和身份识别功能,可用于分析设备的特征。总之,T 5383测试设备是当今先进集成电路的集成测试解决方桉.凭借强大的测试能力、可靠性和可扩展性,它将为用户提供最大的收益优化潜力和全面的测试能力。