ADVITEST T 5383是一种技术多用途的最终测试设备，设计用于大容量半导体器件的产品开发、生产和质量控制。利用最新技术,ADVANTEST T5383提供强大的测量功能,具有业界领先的准确性和可重复性。它具有高速、八针晶片检测、多参数测试优化、多晶片同时测试等特点，为实现最大生产吞吐量而设计。T 5383为不同的应用提供了多种选择。它的全自动设计使测试的准确性达到了几个等级。集成的数字内板,提供更高的精度和更好的信号完整性。T5383还能够在组装板、复杂零件和设备上执行多个测试。在产品开发方面,ADVANTEST T 5383包括全面的故障诊断和分析功能。它为来自不同制造商和不同工艺的产品提供了测试参数的可追踪性和可重复性。它的可追踪性功能提供端到端数据分析,提供每个产品生命周期的清晰视图。此外,它还能够快速可靠地学习过程技术。利用ADVANTEST T 5383的高速晶片测试操作,实现了元件的生产测试.它能够同时执行多个测量，从而能够更快、更准确地工作。该系统还提供各种软件资源，如图形库，以快速开发和定制测试程序。T 5383的设计考虑了质量控制,并提供了多种选项来确保一致的测试,包括自动精度优化和一系列自动优化功能。这些功能可根据测试条件和组件特性自动调整参数。它们优化每个样本的测试条件,确保输出参数在指定的范围内。为了获得最佳性能,T5383可以通过自动化设备（如探针卡更换系统、晶片卸载系统和自动处理系统）集成到多个测试环境中。测试单元的设计也符合所有必要的安全和环境标准。总体而言,ADVANTEST T 5383是一种强大高效的最终测试机器,用于生产和质量控制。它的自动化精度优化、高吞吐量和快速执行将使其成为满足各种测试要求的可靠解决方桉。是大容量半导体器件测试应用的理想工具。