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ADVANTEST T 5383 半导体测试机

库存状态:现货

ADVANTEST T 5383是一个先进的最终测试设备,设计用于故障分析和诊断的高度复杂,密集的多层设备。此新一代系统利用故障检测和主板级装配方面的最新技术来确保准确可靠的自动化测试功能。从光学角度来看,ADVANTEST T5383对光学绘图系统具有最大的灵敏度,能够检测高性能设计中的最小缺陷。它具有高灵敏度光学、光学表面特征检测和位置精度。它可以精确地识别微小的表面特征,这可能是难以通过人工检查单独检测。此外,该装置利用高倍率光学机器精确测量到纳米尺度的电路模式。T 5383还具有高级故障检测功能。结合先进的故障检测算法和基于扫描的故障测试解决方桉,该工具可以定位多层板结构中的高度复杂的缺陷。此外,它还可以以高效可靠的方式诊断各种故障,包括短裤、开孔、泄漏和其他异常。此外,T5383还提供了一系列灵活的测试解决方桉。它包括各种专门的测试算法,并提供可配置的输入、输出、地址总线宽度和测试频率。它还集成了几种工具和编程语言,包括C++和BASIC,用于用户定义的测试。这套全面的选项允许用户自定义他们的测试解决方桉以实现最高的效率。ADVANTEST T 5383的特性和功能为组织提供了功能强大、快速、可靠的故障分析和诊断解决方桉。它提供了卓越的故障检测功能、用于精确表面特征检测的高级光学功能,以及用于定制测试的一系列灵活解决方桉。因此,它为分析和提高高性能设计的质量和可靠性提供了一种高效可靠的手段。

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