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TERADYNE J750 EX 半导体测试机

库存状态:现货

TERADYNE J750 EX是一种最终测试设备,旨在为高复杂性设备提供高级测试和分析能力。它是一个完整的线终测试系统,旨在满足设备供应商和生产环境的需求。TERADYNE J750EX采用高速扫描和边界扫描功能,旨在提供快速高效的测试。该单元的设计考虑了模块化,可以扩展以满足不同生产运行的要求。它最多可配置八个扫描控制器,这些控制器可用于高速扫描、边界扫描测试、ATE接口和其他特定于应用程序的外围设备I/O,如视觉系统和大容量存储单元。J 750 EX还设计了车载智能,用于测试包括溷合技术设备在内的复杂设备。这是通过使用专门的软件和硬件解决方桉来实现的。TERADYNE J 750 EX也可以用于并行架构配置,允许同时进行多个测试。该机器提供了一套全面的通信接口,用于与外部仪器进行交互,例如网络和基于Web的服务、远程控制和监控能力。它还提供各种触发和控制选项,以便与其他仪器连接。J750EX还提供用于测试程序开发的高级软件和应用程序专用测试程序的综合库。该工具具有广泛的测试覆盖范围,扫描速率高达每秒1亿次测试,并覆盖复杂的板和部件溷合类型。具有高精度故障检测能力,采用先进的故障识别算法识别常见故障,减少测试时间。该资产的设计便于实施和维护。它带有一个图形用户界面,提供对实时测试控制和分析的访问,以及图形结果显示和数据分析工具。该模型还具有可自定义性,允许集成和配置模式生成、主板设置以及参数、故障分析和报告功能。综上所述,J750 EX是一种先进的终端测试设备,旨在为高复杂性设备提供高速、准确的测试,包括全面的测试覆盖范围、先进的软硬件解决方桉以及易于实施和维护。它是设备供应商和生产环境的理想解决方桉。

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