TERADYNE J750 EX是一种高速、高精度的生产级最终测试系统，旨在详尽测试复杂的集成电路。作为J750系列自动测试系统的一部分,TERADYNE J750EX是一个全自动测试设备（ATE）系统,为设计人员和制造商提供多功能的多合一生产测试能力。它具有广泛的强大功能以实现连续吞吐量优化，包括超高并行、高级刺激和响应测试以及覆盖范围分析。J 750 EX由一个功能强大的DUT控制单元（DCU）、一系列相互连接的自动测试模块（ATM）和一个集成的软件框架组成。DCU包含一组高级的特定于应用程序的集成工具,以确保J750 EX能够有效地与所有受支持的DUT进行交互。DCU集成了数据、程序和测试指令,然后通过专有的以太网和驱动网络（DON）技术将这些指令分发给与其连接的计算机。自动取款机由测试头模块（THM）和过程控制模块（PCM）组成。THM提供全自动测试执行功能,包括复杂的诊断和调整例程以及定制软件包。PCM提供执行测试、监控测试进度和管理性能状态所需的必要控制和接口机制。TERADYNE J 750 EX的软件框架围绕着Aurora测试平台构建，它为各种测试模块提供了统一的编程平台。这种巧妙的体系结构与J750 EX的DCU紧密集成,保证了最佳测试性能。此外,TERADYNE J750 EX还提供了软件开发工具包（SDK）,以简化和加快测试应用程序的定制。SDK协助组建可自动化、可重复使用和易于升级的综合测试套件。总之，TERADYNE J750EX是一个功能强大的自动测试设备系统，旨在满足最苛刻的生产测试要求。它提供了一整套测试工具,旨在实现连续吞吐量优化和集成开发支持。J 750 EX高度先进的DUT控制单元、自动测试模块和软件框架提供了必要的技术,以确保以最高效的方式满足生产测试要求。