NEXTEST/TERADYNE Maverick ST（"设备测试"的缩写）是一个功能强大、用途广泛的测试平台，旨在为集成电路提供高效可靠的晶圆级最终测试。它是专用测试解决方桉的理想选择,可为8英寸、12英寸和16英寸晶圆尺寸提供方便的操作,并可适应各种技术,包括SOI、BiCMOS、CMOS和BiPolar。NEXTEST Maverick ST包含一个高级硬件平台,具有两个并行磁盘驱动器系统,可访问通用和特定于应用程序的系统组件。这有助于为各种单元应用程序支持专用组件,从而最大限度地提高测试执行速度。这两个磁盘驱动器系统允许快速加载和卸载晶片,并使用户能够轻松地访问远程服务器上的数据。TERADYNE Maverick ST还具有高速计数器测量、信号验证、晶圆映射和局域网/内存容量测量功能。这些机器功能能够提供各种参数的全面测试覆盖以及快速、可靠和灵活的晶圆分选解决方桉。它还支持多种技术，包括低功耗工艺和低压技术，从而在目标设计中实现更高的产量和更好的质量优化。Maverick ST易于升级以满足不断变化的需求,从而使用户能够轻松调整其硬件配置。NEXTEST/TERADYNE Maverick ST的其他功能包括脱机编程支持、通用测试接口（UTI）支持、集成接口控制器、工具级SPC、定制配方、诊断和详细报告结果。NEXTEST Maverick ST丰富的套件功能旨在最大限度地提高效率和降低成本。它支持从晶片级操作到传入批次采样和实时数据分析的各个方面。基于TERADYNE Maverick ST的测试平台还可以在满足晶圆级可靠性和低泄漏目标的同时提高产量并缩短产品周期时间。此外,这种功能强大、可靠的解决方桉提供了一致的设备级别结果,并为客户提供了更好的整体价值。