TERADYNE J750 EX是为汽车和工业电子的生产测试而设计的高性能最终测试设备。此解决方桉具有快速测试速度、高诊断能力和高级测试算法。TERADYNE J750EX能够测试各种产品,从简单组件到溷合信号SoC和基于微控制器的设备。J 750 EX的核心是功能强大的EX200 μ Tester,它提供了令人印象深刻的一系列功能。高达20MHz的高频带宽、高达8 GB的内存测试覆盖范围,以及高性能的加载和卸载。该系统还具有高级脚本引擎,可提供强大而高效的测试序列。J750 EX提供强大的数据采集功能,允许用户跟踪每个周期的结果,并快速识别和隔离有缺陷的部件。该单元还包括专门的高速数字二进制驱动器，能够检测主板运行中的动态状况，提供故障的完整诊断。TERADYNE J 750 EX与直观的图形用户界面配合使用，可以让用户轻松编程和设置测试。所有相关参数都是完全可定制的，允许高编程灵活性和易于操作。此外，机器带有几种预编程和自动化的调试技术，使用户可以很容易地发现和解决问题。最后,J750EX配备了模块化、可持续性级别的夹具和接口,这些夹具和接口旨在最大限度地减少测试占用空间并加快测试时间。该工具还支持最新的行业标准，如USB 3.0和DisplayPort，并具有集成的以太网连接。此配置确保了溷合信号设备的高性能、快速的测试时间和卓越的测试覆盖范围。