TERADYNE TestStation TSLX-F364是一种高度可靠、高性能的最终测试设备,旨在对各种电子元件进行高效、准确的测试。该TSLX-F364采用功能齐全的模块化系统,可配置为满足各个客户的需求,为所有类型的最终测试活动提供了全面的解决方桉。该TSLX-F364配备了高速并发处理程序选项,能够同时测试每个站点的多个设备,测试时间低至17毫秒,非常适合高容量、对成本敏感的应用程序。通过对测试处理程序接口进行创新的重新设计,TSLX-F364还减少了占用空间,改进了对已安装测试站的利用。该TSLX-F364可装载多种仪器,包括DUT（被测设备）测试接口、二极管检测器测试、功率测量、晶圆级芯片尺寸测试（WLST）和设备表征功能,可在选择测试设备时提供完全的自由。该装置专为在-55至130°C最严酷的测试环境中运行而设计，并采用重型机架设计，采用主动气流控制，以减少噪音和抵抗冲击和振动。该TSLX-F364拥有一整套软件和应用程序开发工具,非常适合在任何设备技术上开发复杂的测试应用程序。该TSLX-F364配备了强大的故障诊断功能,包括集成的离线跨站点关联（XSC）功能,能够关联来自多个站点和设备的测试结果。该机还具有优化的测试加载阶段，可将测试人员的加载时间减少多达20%。总之,TestStation TSLX-F364是一种高级、高度灵活的最终测试工具,可快速准确地测试各种电子元件和设备。此资产具有广泛的仪器和复杂的诊断功能,是高容量、成本敏感的测试环境的理想选择。