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TERADYNE Z 1860VP 半导体测试机

库存状态:现货

TERADYNE Z 1860VP是最先进的最终测试设备,可用于中型和中型测试应用。该系统旨在为具有高数据吞吐量的智能电子测试提供最高效率的解决方桉。该单元独特的模块化设计使其能够提供出色的灵活性、可扩展性和可升级性。TERADYNE Z 1860 VP的模块化体系结构由四个关键组件组成:访问模块、测试控制台、测试头组件和接口单元。"Access Modules(接入模块)"用作计算机与"under-under-test (DUT)"设备之间的接口。该模块可以支持不同类型的负载板和插座材料,从而能够测试LED、电阻器、连接器、开关、电容器和晶体管等各种类型的设备。每个模块最多可容纳四个独立的访问通道电路,以实现多探测。测试控制台用作工具与DUT的操作控制和通信接口。它包含前端硬件控制器和用于向DUT提供所有必要信息的软件工具。此控制台在测试操作期间捕获来自DUT的数据,并用作整个资产的数据库。测试头组件包含用于处理DUT测试信号的关键组件。该组件包括负载板、探针卡、电子负载硬件和可编程电源。此组件中的所有元件,包括载荷板、探针卡等都经过微加工,以确保准确的结果。接口单元是模型中执行所有必要的DUT测试任务的中心组件。它在设备的不同组成部分之间提供了一个桥梁,并作为控制单元和被测试者之间的中介。为确保卓越的性能和可靠性,系统的组件采用不锈钢等优质材料,并采用多层结构等精密技术。这样可以确保设备能够处理最先进的应用程序的苛刻要求。Z 1860 VP旨在最大限度地减少测试时间和提高准确性,是测试中型和中型应用的理想选择。其优越的特点使其成为各种测试操作的高效测试机器。

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