MOSAID M4205是为生产环境设计的最先进的最终测试设备,在当今最先进的IC技术中效率最高。M4205提供了一个可扩展的测试平台,该平台具有单一、统一的硬件体系结构,能够测试各种半导体器件,从离散的IC到复杂的IC,其门数高达8000万个。此高性能系统基于MOSAID第四代多站点单元技术,每个站点最多可提供1,500针,并采用Altera的Max 10 FPGA和Xilinx的Artix-7 FPGA等业界领先技术。它经过优化,可支持多种内存类型,包括闪存、DRAM、SRAM和NAND,以及各种速度等级。它的模块化体系结构允许通过独立的go/no-go和基于扫描的测试实现配置灵活性,同时使用多达800个测试通道和四个测试程序。MOSAID M4205拥有广泛的输出测试功能,包括模拟边际测试、冗余测试、晶圆探测、OTP编程和诊断测试。它采用数字签名分析、桥接电阻检测、机内自测等先进编程和测试技术，以确保最高水平的可靠性。M4205还提供可配置的测试策略,以提高吞吐量和提高产量。其他功能包括：24 Gb/s外部带宽、高级数据压缩、自动部件选择、使用单一独立验证（IV&V）工具的100%测试覆盖率、通过感测晶体管值进行的测试时间优化,以及对CAD数据库加载和格式转换的第三方支持。MOSAID M4205是一项完整的资产,随时可以与现有生产线集成,并具有各种内置的现成诊断工具。它设计为易于使用,并提供全面的连接、测量完整性和测试开发设施,以帮助简化IC设备测试,降低测试成本并加快上市速度。