ADVANTEST T 5585是一款为前沿半导体器件开发而设计的高性能"最终测试"设备。该系统结合了高级功能，支持直接访问和锁定检测等技术，以确保对被测设备的准确验证。ADVANTEST T5585可以极精确地以最高80Mbits/s的速度进行测试。它的总周期时间（对于所有测试和测试程序）非常快,与市场上的其他系统相比,吞吐量更高。该单元能够同时进行电源和电流测量,以及测量各种直流、交流、脉冲和准静态参数。T 5585还具有内置逻辑故障搜索功能，使用户能够快速识别和排除无错误的设计。此外,T5585提供小巧的尺寸,提供高密度模式测试,并支持JEDEC和IEEE 1149.1标准测试访问端口（TAP）系统。其高度集成的设计，包括DUT测试接口、16K数据缓冲区、自动零、预定义的测试类以及数字多路复用器，使机器能够在不牺牲精度的情况下实现高吞吐量。ADVANTEST T 5585还配备了易于使用的图形用户界面和强大的车载应用程序编程环境（APE），用于定制和自动化测试。APE包括脚本支持、功能强大的调试工具以及对设备扫描和控制的实时访问。该资产还由一套先进的开发和测试工具提供支持,以帮助用户快速开发和验证新设计。总体而言,ADVANTEST T5585为要求最苛刻的半导体器件应用程序提供了无与伦比的速度、精度、功率和灵活性组合。凭借其先进的功能和特性,T 5585是芯片开发团队必不可少的工具,他们需要确保其设计针对上市时间和性能进行优化。