TERADYNE J750 EX是为高级电子设备"最终测试"而设计的高性能自动测试设备。它基于经过TERADYNE行业验证的灵活J750平台。该系统以紧凑的空间提供了速度、精度、多功能性和可靠性的组合。TERADYNE J750EX为满足各种半导体和其他电子设备制造商的要求而设计,能够对包括DRAM、闪存、ROM、MCU、CPLD、光盘和微控制器在内的各种设备进行大批量生产测试和表征。该设备采用基于激光的专利体系结构，采用了可扩展的多端口机器配置和多个数据总线。J 750 EX提供高速功能,具有业界最快的干晶圆吞吐量。其先进的2件式测试模块设计允许装置两侧同时具有高达每英寸400针的高密度针脚密度，其集成的高压设计具有同时支持多个电压电平的灵活性。该工具包括各种集成模块，如MicroScope调制电压网络、微波频率测试模块、柔性探针、工程测试模块系统和各种测试适配器。它还提供了广泛的编程选项,包括通过其高级Network CommandCenter （NCC）软件进行远程编程、ProCOM数据库支持以及各种标准化编程语言。J750EX包括用于自动根本原因问题分析和修复的强大诊断。其专有的SCRIBE软件套件提供了一套全面的诊断诊断,以及实时的图形错误检测和分析。综合数据分析包允许对业绩数据进行统计分析和报告，以便改进流程。J750 EX配备了灵活、可配置的资产体系结构,使其能够轻松地根据客户需求进行定制,使其成为满足当今苛刻测试要求的理想解决方桉。其自动化模具功能的增加意味着它是多轴、多探针汽车和医疗设备测试的理想解决方桉。该模型提供了无与伦比的功能组合,使其成为测试系统的市场领导者。先进技术、设备性能、诊断、编程和可定制体系结构的结合使TERADYNE J 750 EX成为电子制造商的理想系统。