ADVANTEST T 6372是一款Final Test Equipment （FTM），旨在使半导体制造商能够以卓越的精度和高速吞吐量对单个芯片进行晶圆级测试。ADVANTEST T6372是一个全自动系统,使用户能够以更高的效率测试各种电路。该单元提供了最大的设备测试速度,缩短了测试时间的成本。它提供高水平的测试分辨率,而强大的数据处理功能则提供可靠性和准确性。为了保持机器的精确度，T 6372结合了集成的高速数据收集工具，将测试数据快速传输到其中央控制器。该控制器存储测试结果并生成详细的报告以分析晶圆质量。T6372还支持多种测试格式,如国外测试、单元测试、DFT测试、高速测试、快速测试,还支持过程监控、统计过程控制应用（SPC）和TTR日志记录。其集成的测试头可以从一个晶片快速切换到下一个晶片，允许进行连续的芯片测试。资产的高级设计还可以同时对不同类型的电路进行并行测试。它允许跨多种技术定制测试级别,使用户能够根据自己的需求精确配置模型。还提供天线测试功能,允许对测试芯片进行2D和3D成像,而其数据跟踪功能可提供详细的故障分析。该设备还允许实时单元测试,从而加快了新产品的上市时间。ADVANTEST T 6372还包含全面的安全功能，保护用户和测试系统免受电气或机械故障的影响。其先进的温度控制单元允许在安全控制的温度下进行测试，而机器的软件体系结构则通过自动提供详细的测试结果来减少上市时间。该工具有一个训练有素的服务团队作为后盾，为所有用户提供技术支持。这一切的结合使得ADVANTEST T6372一个可靠的解决方桉，完整的晶圆级芯片测试。