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TERADYNE J750 E 半导体测试机

库存状态:现货

TERADYNE J750 E是TERADYNE Inc制造的最终测试设备。该系统设计用于用户对印刷电路板(PCB)进行复杂的大容量测试。其先进的高速功能使其能够快速准确地诊断PCB,以用于广泛的应用,包括消费电子产品、汽车、医疗设备等。TERADYNE J750E能够在单个板上同时测试多个动态参数。设备配置有功能强大的控制器以及多个外围设备模块。其中包括下载程序/转换器模块、界面板、应用程序模块、测试卡以及各种其他附件。控制器和模块连接到需要Windows XP或更高版本的主机计算机或Windows Embedded Server操作计算机。J 750 E能够以极低的错误检测率得出非常精确的测试结果。它具有业界领先的测试准确性和速度,在多个主板上执行数千次测试时,每秒可执行5,000次操作。其模块化设计允许将两个或多个TERADYNE J 750 E系统串联在一起,以进一步提高测试吞吐量。它支持用户可编程的驱动器电流和测试频率,并且在满足特定测试需求方面非常灵活。此外,J750 E易于维护,如果需要,可以使用新卡和模块快速重新配置。J750E还节省了大量空间,因为其纤细的外形只需要一个标准机架。它占地面积小、功耗低,非常适合在空间和能源限制下工作的用户。它还包括各种方便用户的功能,使工具易于使用。其中包括用于所有操作(包括测试编程、执行和分析)的单个用户界面,以及用于存储测试结果的自动数据记录器。总之,TERADYNE J750 E是一种先进的最终测试资产,非常适合大容量、复杂的PCB测试。它的多功能功能、模块化设计和简化的用户界面使其成为各种应用程序的可靠选择。它小巧的尺寸和低功率的拉伸使得它适合空间和能量限制的用户。最后,它的快速吞吐量和准确的测试结果使它成为可靠的模型性能的首选。

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