TERADYNE J750是一种全自动、高速、最终的测试设备，适用于大容量、高密度半导体器件的测试。该系统旨在显着缩短测试时间，最大限度地减少操作员参与，并确保设备测试和调试的最高质量。TERADYNE J 750是一个计算机控制的全自动单元，设计用于处理单模和晶圆测试，无需人工干预。它是一个高通量的自动化测试机器，配备了一个多探针装置测试仪和一个非接触式示波器，结合起来对集成电路和设备提供快速、准确的测试。该工具包括射频测量资产和高功率电压表，以提供额外的测试能力。该型号大大提高了速度,减少了测试时间并提高了吞吐量。J750台测试仪配备了多探头测试站、高速非接触式示波器、数字控制设备和射频测量系统，使设备能够同时测试多个模具，同时提供灵活的测试解决方桉。该机器具有广泛的测试覆盖范围，使其能够精确测量复杂的设备特性，直至6GHz。多探针测试站允许对多个模具同时进行快速、准确的测试，使J 750的最大吞吐量达到600 DUT/小时。这种改进的吞吐量大大减少了测试和调试设备的时间,从而减少了测试时间和成本。多探头臂还提供了一种测试非标准形状或封装装置的替代方法。TERADYNE J750还有一个自动序列控制器，可以对测试系统进行高效编程。此控制器不仅可用于单个芯片,还可用于晶圆级测试。软件还允许设置特定的测试参数并在测试期间进行监控。该工具配备了复杂的测试诊断程序,使工程师能够快速识别故障并提供有关故障发生方式的详细信息。这包括关于探测器和设备位置的位置信息和测量。总体而言,TERADYNE J 750提供了灵活、高速、高通量的解决方桉,用于测试多芯片和晶圆级集成电路和设备。通过全自动设计和全面的测试诊断,该资产最大限度地减少了测试和调试的时间和成本,为工程师提供了高效测试大容量半导体器件的强大测试解决方桉。