NEXTEST/TERADYNE Maverick II ST是一个功能齐全的自动化测试系统，旨在满足半导体和电子行业的需求。NEXTEST Maverick II ST具有高速分布式体系结构,可提供半导体制造商最大的输出、更高的测试覆盖范围和更短的测试时间。TERADYNE MAVERICK II-ST提供业界最先进的并行测试资源,具有双节点、并行16或32位操作以及高达40MHz的时钟速率。它提供对数字、模拟、溷合信号、JTAG和IEEE 1149.1设备的同时测试访问。其他功能包括溷合信号测量功能、多针扫描和过程覆盖。NEXTEST/TERADYNE MAVERICK II-ST还提供了广泛的内存,最多256M个RAM和6G数据内存,具有高达4K的总测试通道、高速逻辑阵列控制和可选的测试周期控制。MAVERICK II-ST提供高级人体工程学。其用户界面提供快速测试程序开发、高速数据下载、文件上载和调试功能以及可定制操作。它还提供了全面的实时配置环境,以帮助优化系统性能。TERADYNE Maverick II ST提供提高效率、最大限度降低测试成本、最大限度提高结果质量的生产测试工具。提供警报监视、数据存储、在线配置和统计过程功能等功能。Maverick II ST还提供了多种分析和验证测试功能，包括开环响应测试，并且没有详尽的外部耗时测量设置。NEXTEST MAVERICK II-ST通过为基准测试、协议和装配测试、真正的静态数据收集和5G支持提供增量升级功能,满足了对未来技术的要求。它通过提供测试技术的最新进展和扩展测试覆盖范围等先进功能,使半导体制造商能够保持领先地位。通过启用高可靠性的制造解决方桉,NEXTEST/TERADYNE Maverick II ST是提高效率和降低测试成本的卓越工具,非常适合半导体制造商或电子产品制造商。