TERADYNE A580 Final Test Equipment是为各种半导体器件的自动化功能测试和大批量生产测试而设计的。该系统经过验证的性能分析功能不仅有助于最大限度地提高测试覆盖率,而且还有助于提高吞吐量和降低设备测试成本。该单元采用模块化硬件平台，使用户能够量身定制以满足特定的测试要求。TERADYNE A 580包含多种测试应用类型,包括芯片、板、机器和嵌入式软件测试。A580配备了许多功能，以确保最大的测试灵活性。为了处理多种设备类型,该工具提供了多种I/O数字和模拟输入/输出、边界扫描和数字信号处理（DSP）功能。该资产的计算机控制测试资源使用户能够快速准确地测量正在测试的设备。580的测试优化功能利用在线故障诊断、测试矢量发生器和并行测试模式执行,缩短了测试时间。TERADYNE A580的高性能架构允许对Windows、DOS和Linux平台的C编程语言支持。其集成的以太网和GPIB总线使用户能够轻松地将其系统集成到现有和未来的网络中。此外,TERADYNE A 580提供了可选的高速测试仪（HST）接口,以跟上不断增加的设备尺寸和密度。使用基于库的参数测试设置,用户可以使用预设值快速准确地对测试进行编程,从而使设备能够跨多个测试点进行测试,包括开机索引、实时温度和阈值电压偏差。该模型还提供设备级别的适应性，以自动适应不断变化的环境条件。580还包括一套允许用户自定义系统以满足其独特需求的软件。这些软件包支持远程控制、设备特性鉴定和生产测试。为确保设备提供最佳效果,TERADYNE为用户提供远程客户支持、软件更新和升级以及现场服务。TERADYNE A580 Final Test Machine是用于测试各种半导体器件的可靠且经济高效的解决方桉。