TERADYNE J750 Final Test Equipment是一种高速、高性能的系统，设计用于测试微处理器和其他集成电路。它结合了先进的硬件和软件技术，提供了一个集成的微处理器测试解决方桉。TERADYNE J 750是TERADYNE系列最终测试系统中功能最强大、用途最广泛的单元，提供可靠的高速、高精度测试结果，吞吐量和测试时间显着提高。J750集成了功能强大的控制器和专有软件以及各种主板选项、接口功能和测量功能。控制器提供了执行测试程序、存储数据和控制机器的平台。这使程序员能够设计适合正在测试的设备的确切规格的测试程序。板载软件包括易于使用的工具，用于创建测试程序、调试现有程序、监控J 750的性能以及存储测试结果。该软件还支持多种语言和其他开发技术。TERADYNE J750为用户提供了广泛的主板选项,包括多个测试应用程序,以及接口卡、测量系统和自定义功能的访问深度。这些板有多种外形规格,包括半页和1U高度格式。电路板选项还包括与测试程序并行运行的可自定义BIST（内建自测）功能。BIST功能可以在测试过程中检测故障，如短路和开路，并识别已损坏或移除的组件。TERADYNE J 750提供了广泛的接口功能,包括数字和模拟。标准的数字接口包括LVDS（低压差分信令）和并行/串行接口（PSI）。标准模拟接口包括sigma-delta和脉宽调制（pulse-width modulation，PWM）。该工具还提供多台数模和模数转换器进行测量。J750 Final Test Asset提供可靠的高速、高精度测试结果,显着提高了吞吐量和测试时间。该型号强大的控制器和集成软件，结合广泛的主板选项和接口功能，使J 750成为测试微处理器、集成电路等复杂电子产品的完美设备。