NEXTEST/TERADYNE Maverick II GT是一个最终测试平台,它提供了业界领先的功能,可高效、可靠地测试各种复杂的组件和主板。此测试设备利用最新的测试技术,为客户提供经济高效且高度灵活的解决方桉,以满足其最终测试要求。NEXTEST Maverick II GT包含了几个高性能的功能，包括一个完全可编程的操作员接口、一个先进的特定于应用程序的集成电路（ASIC）测试仪以及一套数据分析和报告工具。测试平台还提供了用于分析数据性能、调试和流式测试结果的强大功能。该系统配备了多个通道，以适应各种板材尺寸和设计。最多可支援九个数位频道、十六个模拟频道、八个模数频道。TERADYNE Maverick II GT还具有嵌入式Pattern Compression技术，以最大限度地减少测试文件大小并最大化测试时间。Maverick II GT利用高速总线技术（如PCI Express、Serial ATA和HyperTransport）来启用多个主板的并发测试。此单元还允许并行可见性和控制。功能强大的测试机具有较大的寄存器内存、100兆字节（MB）的深层内存和80 GB的内部数据库存储。此外,它还具有快速数据采集功能,每块主板的总捕获内存高达42兆字节（MB）。为了提高产量性能，NEXTEST/TERADYNE Maverick II GT内置了公差算法和高级脚本编写功能。它还利用最新的数字和模拟设备缺陷诊断技术,为客户提供准确、及时的测试过程反馈。NEXTEST Maverick II GT专为快速、轻松的设置和周转而设计,具有自动的测试模式创建功能。它附带了一整套可由客户配置的软件,可用于运行模拟并自动生成测试模式和结果文件。作为经济实惠的测试解决方桉,TERADYNE Maverick II GT是一个业界领先的平台,可提供可靠而强大的测试功能。凭借其先进的测试解决方桉,客户可以缩短上市时间并提高产量性能。对于寻求经济高效、灵活且高性能的最终测试解决方桉的客户,此工具是理想的选择。