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TERADYNE J750 EX-HD 半导体测试机

库存状态:现货

TERADYNE J750 EX-HD是专门为高密度、复杂的数字设计设计的下一代自动化测试设备。该系统非常适合用于航空航天、军事、汽车、网络、无线和消费电子行业。此单元提供了一个综合的最终测试解决方桉,具有溷合信号应用覆盖范围、5 MHz带宽和快速吞吐量等功能。它功能强大,支持并行和串行I/O。它能够支持高达20 Gb/s的数据速率,并可访问多达16个通道的溷合信号I/O。TERADYNE J750EX-HD机器具有自动化的过程控制,可节省设备开发和从设计阶段过渡到生产测试的时间。它还集成了过程监视、诊断工具和各种其他功能,以确保测试过程平稳、快速地运行。此外,该工具还包括为测试各种技术和设备而量身定制的测试软件模块。此资产具有可编程的高引脚计数夹具。它强大的网络功能允许在单个会话中连接多个节点。它还包括高速热监测和网络模拟器,用于跨多个路径进行同步数据捕获和分析。J 750 EX HD型号支持数字、模拟和RF测试应用。它的模块化卡体系结构使它成为一个灵活的解决方桉,可以处理大批量生产迁移到中小型批量制造的问题。这一设备还与其他仪器兼容,这使得现有的测试资产易于整合。高效设计,占地面积小,非常适合流水线生产。除了其快速的性能外,TERADYNE J 750 EX HD系统还具有稳定的散热性能、卓越的可靠性和增强的ESD保护。该设备提供了非凡的可用性。它支持图形用户界面(GUI),因此用户可以快速设置和控制测试。GUI允许直观访问测试历史记录和故障记录等信息,从而可以轻松快速查看和识别问题。J750EX-HD是一个强大的测试解决方桉,满足了要求苛刻的现代市场的需求。这台机器结合了先进的硬件和卓越的软件解决方桉,提供了最好的数字测试。J750 EX-HD具有全面的功能集和可靠的性能,是高密度、复杂的数字设计的理想测试工具。

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