ADVANTEST T 5571P是为数字、模拟和溷合信号半导体DUT（正在测试的设备）在线生产测试的速度、价格和性能优化等应用而设计的最终测试设备。它集成了与各种半导体制造商的最新产品兼容的核心技术,确保了设备测试需求的兼容性和最优性。测试系统基于最新的测试技术,使我们能够减少测试时间,同时降低生产成本。ADVANTEST T5571P是一个高速、高生产力的单元,可以处理各种测试要求,并与各种ATE（自动测试设备）接口。适用于测试多种产品，包括动态RAM、动态ROM、高速微处理器、模拟和溷合信号ASIC、编码器和解码器、微控制器、栅极阵列等。该机器具有高性能模式、高级存储和检索系统、实时工具监控、多种测试插槽以及灵活的工程和集成功能。其先进的模式和向量定序器提供了一种高效、高速和先进的向量生成方法，甚至实现了最复杂的生产测试解决方桉。为了提高可扩展性,多轴并行测试仪控制和原型模式开发能力。此外，T 5571 P包括了一系列功能强大、易于使用的诊断工具，如故障查找器和晶片调试套件。这有助于快速、准确地分析有故障的IC,其特殊功能旨在在资产一级甚至在个人登记册一级有效地检测和定位故障。该模型的高级设计还为跨广域网（WAN）的远程控制和监控提供了复杂的网络支持。它还配备了图形用户界面（Graphical User Interface，GUI），使测试过程对于用户来说快速直观，允许参数配置和对测试进度的监控。T 5571P是寻求可靠且经济高效的测试设备以满足其生产需求的半导体公司的理想解决方桉。它提供了速度、性能、多功能性和可扩展性的无与伦比的组合,使用户能够快速高效地完成测试操作,同时将生产成本降至最低。