TERADYNE Flex是下一代最终测试设备,旨在通过将高精度和快速测试时间与高级诊断能力相结合,简化生产流程并降低制造成本。该系统能够测试各种类型的IC（集成电路），包括微处理器、电源元件、存储器、模拟和光电器件，吞吐量每小时可超过1万台。该设备具有很高的可扩展性,既适用于中小型生产环境,也适用于大批量生产线。灵活的设计允许增加模块，如额外的处理程序、测试接口和测试卡，减少了需要的单独测试系统的数量。Flex的高级诊断功能由多种工具和技术提供，如边界扫描、内置自检（BIST）和电路内测试（ICT）。机器还利用先进的自动化编程技术来消除手动编程的需要。此外,该工具还具有直观的GUI（图形用户界面）,可提供高效的操作和"一个测试"的测试方法,无需费时的手动设置。生产测试过程通过多种功能大大简化，像"智能"测试程序，可以自动检测被测试设备并确定其类型，为测试程序执行和过程测试结果选择正确的设置。此外,还会自动保存测试结果以进行测试后分析和/或验证。资产还包括各种数据收集和报告能力，如产量趋势分析、效率监测和缺陷分析，可用于查明和处理生产或质量问题。此外，该模型符合最新标准，如国际电子测试委员会（ICET）制定的标准。在硬件方面，TERADYNE Flex设备包括多种模块化仪器，如电源模块、温度控制模块、信号生成/调节模块以及多种多路复用器和开关设备。此外,系统位于坚固耐用的机箱中,可以承受生产测试中经常遇到的恶劣环境。总之,Flex最终测试单元旨在满足当今生产环境的需求,提供高级测试功能、可扩展性和成本节约,以及用户友好的界面和高级功能。这台机器是任何生产试验环境的理想选择.