ADVANTEST T 5593是一种通用的最终测试设备，用于评估高速数字集成电路的性能和可靠性。适用于范围广泛的设备，从内存芯片和可编程逻辑设备到处理器和ASIC。该系统使用高级测试结构来确保测试的准确性和速度，其最先进的时钟同步能力即使在最高速度下也能确保准确性和精度。ADVANTEST T5593单元有两个主要组件-高级接口板及其集成测试板。接口板允许连接到PC或其他外部设备,其高速数字通信接口可提供多达64位并行数据和地址信号。集成测试板包括一系列专门的测试导入板、测试控制器和DFT资源。它还具有一系列内存和ROM功能,包括验证和验证控制。T 5593的模块化体系结构能够集成各种特定于过程的工具和功能。它的多级测试结构和实时测量机提供了全面的测试和实时诊断。其自动化的测试观察和数据分析功能使数据分析能够快速检测和诊断任何缺陷。T5593工具旨在在测试过程中释放尽可能少的热能，使其成为测试敏感电路的理想选择。它的锁定保护功能还可以防止不必要的操作对设备造成损坏。资产的安全监控和管理功能允许用户根据自己的特定要求定制测试条件。ADVANTEST T 5593型号先进的多字节并行测试技术使得单块板上的多个芯片能够同时进行高速测试。这项技术允许用户准确比较多种设备的性能，并评估各种技术的相对性能。设备的高级内置自检（BIST）功能和诊断功能还可帮助用户快速识别和确定任何错误的原因。ADVANTEST T5593是一种用于评估和测试复杂数字电路的强大的最终测试系统。它坚固耐用的体系结构、先进的测试功能和易用性使其成为寻求可靠和准确解决方桉的设计师的理想选择。