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MOSAID M420501 半导体测试机

库存状态:现货

MOSAID M420501是为适应快速变化的测试技术要求和平台卸载而设计的最终测试设备。这种集成测试系统提供了一种经济高效的解决方桉,可以在快速周转的情况下测试大批量生产。该单元具有模块化功能,可轻松管理各种测试要求,包括数字、溷合信号和射频测试。MOSAID M 420501机器提供了内置的测试体系结构,该体系结构具有一整套测试排序功能。该工具的排序层经过高度优化,可最大限度地减少测试时间、最大限度地扩大测试覆盖范围并为复杂的产品平台提供灵活性。它包括多种测试支持工具,如并行测试管理(PTM)主管和测试程序管理(TPM)。高级工具使技术人员能够映射出整个测试流程、管理数据和优化资源利用率。M420501资产还提供了许多高级测试策略和算法。其中包括执行信号完整性、电源完整性和功能测试等高级测试。该模型具有高数据吞吐量、实时监控和错误恢复功能。M 420501设备采用STT-5002处理器,采用标准的5层主板格式和两个PCI Express (PCIe)扩展插槽。这些功能使系统能够灵活地连接到总共七个测试卡。此外,它最多可支持128 MB的DDR 3内存以及3 GB的总存储容量。该单元旨在与外部测试数据采集和存储系统接口,提供可用的外部测试资源。这些外部测试资源可以包括数据记录器、可编程电源以及专用测试系统和软件的用户定义通道。该机还包括一个通用语言接口(ULI)模块,该模块为MOSAID M420501提供了一个与所有MOSAID测试系统通信的通用接口,并提供了一个健壮的命令和数据传输协议库。除了强大的测试功能外,MOSAID M 420501还提供了可扩展性。这样就可以按顺序测试同一块板的多个副本,从而消除了手动设置时间。此功能及其用户友好的基于Web的界面使快速设置和编程工具变得容易。总体而言,M420501设计具有可靠的测试覆盖范围,可以有效地满足具有挑战性的大规模生产需求。该资产具有强大的可扩展性和灵活性,可提供内置测试体系结构、以高级和错误恢复为重点的测试算法、外部测试资源以及通用语言界面。此集成模型为复杂的产品平台提供了快速、经济高效的解决方桉。

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