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TERADYNE IP 750 EX 半导体测试机

库存状态:现货

TERADYNE IP 750 EX是测试系统领先创新者TERADYNE设计的最终测试设备。该系统提供灵活的模块化平台,可轻松满足各种测试要求。其模块化设计和强大的测试体系结构支持高级功能,使其能够以极高的精度提供高吞吐量。TERADYNE IP750EX包括了一系列强大的测试功能,如高性能的中央单元控制器、多个测试站、先进的数据处理和分析工具、高速车载测试创建和调试功能、全面的故障覆盖、集成的内联处理程序系统以及三维图像识别技术。每个测试站都配备了广泛的高级测试站和测试工具,包括自测和自动校准、高速测试单元控制器、智能高速夹具以及配置测试系统的众多标准和可选组件。此外,这台机器能够快速准确地执行复杂的测试,使其成为即使是最复杂的应用程序的理想的最终测试解决方桉。IP 750EX提供了一系列特殊的测试结果。其全面的测试智能最大限度地提高了工具的效率和故障覆盖率,而机载统计过程控制(SPC)则允许高速识别和分析过程异常。该资产包括一个独特的容错功能,有助于保持最佳的测试准确性和最小化错误接受率。此外,它还配备了一套嵌入式诊断程序,用于检测错误和故障并发出警报。此外,IP750EX还提供各种测试模式,以适应所有类型的测试,其高级设计可实现实时数据采集、分析和报告生成。总之,TERADYNE IP 750EX为最复杂的应用程序提供了灵活、强大且可靠的最终测试解决方桉。该模型具有高速测试和车载诊断功能,能够减少测试时间并实现异常准确可靠的测试结果。此外,其集成的内联处理系统和三维图像识别技术确保以安全和快速的方式准确测试结果。IP 750 EX是经济高效、可靠的最终测试解决方桉的完美选择。

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