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TERADYNE UltraFlex HD 半导体测试机

库存状态:现货

TERADYNE UltraFlex HD是一款高端、高性能的最终测试设备,专为支持当今动态电子行业的先进流程和上市时间需求而设计。TERADYNE ULTRAFLEX-HD测试系统提供强大的测试解决方桉,将最大测试覆盖范围与测试一致性和准确性相结合。ULTRA FLEX HD测试单元采用模块化的高密度、高性能测试体系结构,易于部署并集成到现有的生产操作中。高度可配置的计算机可以配置为适应各种产品尺寸和测试复杂性,从简单的单字节测试到复杂的电源管理和模拟测试解决方桉。该工具采用了多种测试技术,包括串行ATA和UltraSCSI等高速数字技术,以及集成的模数和数模转换器。综合测试资产还提供高级测试解决方桉,如二进制全波形测量和BIST测试。该模型可以配置各种可变测试配置,包括测试人员特定的测试周期、板载仪器、线性和负载切换以及输入/输出扩展程序。该设备提供了许多关键功能,如环境测试能力、高速监督检查以及各种形式的数据采集和分析解决方桉。这些功能允许对设备的行为进行详细的技术调查,从而可以更深入、更快速地进行调试。该系统还可以与外部源集成,例如制造执行单元(MES),它允许更大的可见性进入生产线。该机器利用了全面的软件应用程序,从自动测试程序创建到全面的测试数据分析解决方桉,这使得它非常适合于上市时间测试以及高效分析和验证各种类型的产品平台。它还提供了一个功能强大的编程工具,用于扩展或修改测试序列或开发针对特定产品或平台量身定制的测试解决方桉。ULTRAFLEX-HD还具有USB、以太网、CompactFlash等多种连接解决方桉,可用于将工具连接到不同类型的测试台和系统。此外,它还配备了先进的生产测试功能,使其能够随着生产线参数的变化轻松扩展,从而为任何类型的产品或平台提供完整的集成测试解决方桉。TERADYNE ULTRA FLEX HD提供了一个完整可靠的测试解决方桉,旨在满足快速发展的半导体行业的需求。UltraFlex HD具有高性能、最大的测试覆盖范围和可靠的结果,是高批量生产和更苛刻的测试要求的理想最终测试资产。

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