TERADYNE J750 EX-HD是为测试复杂设计而设计的高级最终测试设备。这个高度自动化的系统提供完整的测试覆盖范围,包括动态功能测试（DFT）和高功率数字测试（HPDT）。TERADYNE J750EX-HD是一个集成的设备级测试单元，以高速并行速率提供全功能测试。它得益于基于Windows的图形界面,该界面可实现高效编程和从GUI轻松导航。它具有并行执行功能测试和高功率测试的能力。这台测试机足够灵活，可以适应各种设备类型、板级测试需求和测试场景。该工具由高性能处理器TERADYNE Innovator II ASIC提供动力，它采用了先进的8位并行架构。这为资产提供了同时应用多个测试的能力,有助于最大程度地减少时间延迟,并提高吞吐量和总体测试效率。J 750 EX HD还配备了功率优化器功能，这使得该型号可以快速从高功率循环测试切换到低功耗电路测试。这有助于节省电源和减少循环时间。也可用于减少产品缺陷。TERADYNE J 750 EX HD还支持多种不同的测试介质，包括燃烧板和数字测试夹具。其诊断能力包括智能序列控制器，可用于快速诊断和识别测试过程中的故障。它还支持故障池,使操作员能够快速准确地识别生产故障。J750EX-HD非常适合进行低容量/高溷合测试和高容量/低溷合测试。它支持各种设备类型和主板级别的测试需求,同时提供无与伦比的功能覆盖范围和吞吐量。其高速并行处理器和高级功能使其成为任何生产测试要求的绝佳选择。