TERADYNE J750 EX-HD是一种最终测试设备,旨在满足大批量生产测试的需要,并应对设备复杂性日益增加的挑战。它通过其先进的测试算法、可扩展的测试平台和高级软件集成提供灵活、高性能的测试和可靠性结果。该系统针对数字、高速和溷合信号设备的最终功能测试进行了优化，如FPGA、微处理器和数字IC。TERADYNE J750EX-HD利用TERADYNE E6测试体系结构,该体系结构基于允许测试各种设备类型的可扩展体系结构。体系结构中的增强数字检查员（EDX）确保J 750 EX HD满足最新的最新测试技术的要求。该单元还支持多站点并行测试，或T-mode，允许在多个测试站点同时测试多个设备，从而实现FPGA、处理器和ASIC的高速并行测试。可扩展、可重新配置的测试平台允许用户轻松扩展其测试功能,以匹配其应用程序的复杂性级别。该机还设计用于满足大批量生产测试环境的需求，具有高测试可编程吞吐量、可重复测试过程和自动故障放置等特点。此外,该平台还包括一系列即插即用、集成控制器和测试头以及高级测试管理功能,可提供高效可靠的测试结果。该工具的软件集成能力包括用于测试开发的用户友好、交互式编程、分析和调试工具。该资产还通过嵌入式Web服务器提供远程控制,以及远程校准和维护功能。这允许远程访问和控制模型,以及远程诊断、故障排除和修复。J750EX-HD旨在提供可靠和准确的测试结果,同时优化测试成本,以满足大批量生产测试的要求,并应对设备复杂性日益增加的挑战。该设备提供高级测试算法、可扩展的测试平台和高级软件集成功能,使用户能够解决这些难题,同时最大限度地提高测试吞吐量和准确性。