NEXTEST/TERADYNE Maverick GT是一种自动化芯片级产品测试解决方桉,用于对电子制造中产品的有效性和可靠性进行严格的测试要求。NEXTEST Maverick GT提供了一个易于使用的自动化测试平台,用于以最高精度测试解决方桉。该设备包括业界领先的集成高通量硅测试设备包,每个站点的成本低于竞争对手的解决方桉。下一代系统采用NEXTEST TERADYNE Compact Pro （NCP）编程环境,可将开发和测试时间减少多达25%。它具有广泛的高端测试和分析功能基础，包括高级确定性测试（ADT）。TERADYNE Maverick GT还提供了功能丰富、高性能的用户界面,其模块化设计允许用户定制产品以最好地满足他们的需求。集成模式数据库管理器包含一个内置模式库，允许用户快速设计和执行复杂的测试。这使Maverick GT能够调试测试数据，从而提高测试结果的准确性。该单元还包括高速车载功能测试、高速功能菊花链测试、集成故障分析等先进算法。它可以定制为每个DUT（测试中的设备）分别供电,以进行准确的测试,确保产品的完整性和可靠性。NEXTEST/TERADYNE Maverick GT为设备生产测试提供全面的测试覆盖范围,包括背面分析、产量分析以及优化测试配方的过程相关功能。它还支持高质量设备生产的广泛内存修复功能。此外,该机器还提供高级3D X射线检查,为用户提供直观的设置,而无需耗时的手动编程。最后,NEXTEST Maverick GT是一个全面的测试解决方桉,旨在满足最终产品测试最苛刻的测试要求。它提供了高端测试功能、集成模式数据库、高级算法、车载功能测试和高速菊花链测试等一系列功能。此外,它还全面覆盖设备生产测试、内存修复和3D X射线检查。这些功能使TERADYNE Maverick GT成为一种功能强大、易于使用且高效的设备生产测试和分析解决方桉。