NEXTEST/TERADYNE Maverick GT是一款高度先进的最终测试设备，设计用于集成电路、光电、MEMS等电子元件的生产测试。NEXTEST Maverick GT具有高速、准确性和可扩展性,在缺陷检测和产量优化方面提供卓越的性能。该平台采用多核、多线程CPU,包括智能、可扩展的数据路径和灵活的测试体系结构。Mavrick GT允许对测试计划进行简单、即时的更改,并允许使用大量针脚测试高针脚计数设备或设备的可扩展性。该平台包括一个自动输入/输出处理系统以及强大的测试工具以及分析和创建实用程序。TERADYNE Maverick GT适合测试模拟、数字、RF和溷合信号组件，包括广泛的模拟和数字应用卡。这些卡可以是独立卡,也可以是PCIe卡,如果需要,设备可以同时测试多个卡。Maverick GT提供了广泛的调试和诊断功能,包括内置调试器、集成故障检测和隔离以及先进的电路内测量。该平台还提供了一个高级测试算法库，以提高能力和性能。在软件方面，NEXTEST/TERADYNE Maverick GT与一系列不同的操作系统兼容，可以与各种软件包一起使用，如UFTM、HDMI和FPGA设计软件。最后，NEXTEST Maverick GT是一种功能强大的集成测试仪器，设计用于集成电路和其他组件的生产测试。它具有强大的输入/输出处理机、强大的测试工具、可扩展性和自动化功能,是优化和检测缺陷的理想工具。