TERADYNE Catalyst是一款高性能的最终测试设备，旨在满足高速、大容量、半导体测试的需求。它能够在一个测试周期内测试大量设备，其模块化设计允许灵活地为不同的测试应用程序配置系统。Catalyst基于基于标准时分复用（TDM）协议和专用测试单元（DTS）单元的分布式体系结构。这样，机器就可以轻松适应多个测试要求，并通过不同的测试卡。它还包括一些硬件组件，如可编程逻辑设备（PLD）、离散数字输入和输出（DIOs）以及各种高速模拟输入和输出。该工具旨在提供高精度的快速诊断。测试周期可以根据测试设置的个别要求进行定制,使用可编程模式发生器来创建所需的信号和自动测试设备（ATE）来测量结果。该资产还提供各种信号完整性选项,包括信号优先强调和动态频率选择,以确保信号的清晰度和准确性。TERADYNE Catalyst的设计允许对信号定时进行编程,并启动具有内置控制语言功能的自动化测试。它还提供了电路测试和边界扫描功能,可以更快地进行测试并加快上市时间。催化剂还包括一个集成的热管理模型，该模型有助于保持最佳温度，以提高准确性、可靠性和可重复性。设备可以实时远程监控，以进行维护或优化，还包括用于故障排除的内置诊断工具。总体而言，TERADYNE Catalyst是一个健壮且功能丰富的最终测试系统，非常适合大容量半导体测试。它的模块化设计和众多高级功能使其成为需要快速诊断和准确结果的程序的理想解决方桉。