TERADYNE J750 EX是一种全自动的最终测试设备,旨在满足最苛刻的测试要求。它提供了测试各种复杂的数字、模拟、射频和高精度溷合信号设备的灵活性。其高速、快速的设置和对测试参数的精确控制使其成为需要精确、可重复结果的尖端高端设备的理想选择。TERADYNE J750EX具有高度密集的muxing体系结构,它允许多达32,000个引脚以镀锌方式连接到系统。这种高密度级别允许测试包装最密集的软件包,而不会影响性能、速度或灵活性。该设备还具有基于扫描的高级错误注入功能，使用户能够控制慢跑周期和多个扫描时钟，使用户在测试高端半导体器件时获得前所未有的控制和灵活性。J 750 EX具有灵活的测试程序生成器,支持不同的语言,具有物理设备连接的可视化功能,并有助于在实验室中快速验证程序。它还支持高级模拟和调试功能,例如信号完整性和功率特性分析工具,使工程师能够深入了解各种影响,如信号传播和电噪声,否则可能会破坏测试结果。J750EX利用TERADYNE最先进的模拟测量、机器诊断和优化功能,以更高的速度提高精度。它还包括一个功能强大的校准模块、一个功能强大的二级要求列表,如温度和工具控制、集成的以太网和数字测试板集合,以及远程访问和监视测试结果的能力,从而提供最佳的灵活性和控制。最后,TERADYNE J 750 EX全球服务网络提供技术建议和支持,使用户能够快速确定潜在问题并采取必要的纠正措施。这样的网络可确保资产在整个生命周期中的最大正常运行时间。总体而言,J750 EX具有令人印象深刻的性能指标和处理高度复杂和苛刻的测试要求的能力,是那些需要快速可靠的项目测试模型的人的完美解决方桉。