FET TEST 3600E是一种先进而全面的最终测试设备,旨在满足当今的半导体制造需求。3600E集成了嵌入式计算机系统,使用户能够在工厂现场快速准确地运行各种设备测试。FET TEST 3600E由高功率硬件平台、X射线安全单元、流程监控和灵活的软件套件组成。硬件平台由一个多插槽CPU（每个插槽有两个内核）、双千兆以太网卡和最多两个独立的通道组成，用于测试设备。这样可以在各种设计配置中快速高效地测试各种IC和产品设备。在软件方面,3600E Suite支持几种不同的行业标准协议、平台和设备,如以太网和USB。套件由几个程序组成，如设备表征工具；Process Integrator；串行编号机、时钟转换和参数监视器。这使用户能够在整个生产过程中监视和表征设备的性能。FET TEST 3600E还包括一个X射线工具,可帮助用户识别设备设计中可能在制造过程中被忽略或损坏的关键点。X射线资产分析设备的内部结构,以确定可能需要额外或改进制造的区域。最后,3600E还包括一个广泛的过程监视功能,它可以详细监视设备的生产过程。Process Monitor通过快速检测生产过程中可能发生的任何错误或故障,帮助用户保护设备的性能。FET TEST 3600E旨在为半导体制造业节省劳动力和增加价值。其多功能性和可靠的性能使其成为设备生产测试的绝佳选择。X-Ray安全模型、流程监控和软件套件的灵活性使3600E成为满足任何设备测试需求的可靠而高效的解决方桉。