ADVANTEST T 3347是用于集成电路芯片生产测试的最终测试设备。该系统提供高达每小时100,000个芯片的吞吐量,并提供高级测试覆盖范围、硬件和软件功能。该单元构建在模块化平台上，由PXI/cPCI卡笼、内部电源、冷却机、底板和CPU组成。这一核心架构拥有多个模块，包括热插拔高速可编程逻辑控制器（PLC）、测量仪器、波形发生器以及支持多种第三方应用程序的可自定义库。此外，该工具还利用高精度模拟测试单元和差分采样探针来测量双端口属性。ADVANTEST T3347具有20位垂直分辨率和6和8位水平分辨率,能够100MHz扫描链接。它是一项紧凑的资产,利用了广泛的高级测试和可测试（TT）体系结构以及测试开发工具。内存、微处理器和数字电路可以使用T 3347进行测试。此外，参数化测试允许用户限制测试开发和调试所需的时间，同时保持较高的测试覆盖率。T3347提供了广泛的编程和用户界面功能列表,如自动执行测试、测试结果分析和诊断工具、验证和管理器、TestPort图形和数据库功能,以及一套统计分析和报告功能。可自定义的测试程序和测试库使用户能够细化测试复杂且高度敏感的集成电路的过程，并进一步优化测试周期时间。该型号的硬件和软件组件可进行硬件升级,从而延长了设备的使用寿命并降低了总体拥有成本。ADVANTEST T 3347提供了符合当今制造准则的测试解决方桉,同时达到了安全和质量的最高标准。该系统旨在以方便和自动化的方式处理大量集成电路，从而产生最大的效率和输出。