TERADYNE TXP-HD是一款功能强大、功能丰富的测试设备,专为快速、高效和精确的高性能半导体器件最终测试而设计。该系统能够测试速度高达10 Gbps（千兆比特/秒）的各种设备。它具有高吞吐量、低成本和准确的测试解决方桉,可用于满足许多生产环境的需求。该单元由三个组件组成：大型机、testhead和适配器板。大型机是控制整个测试过程的强大机械控制机器。它包括高速DSP和控制和监视整个测试过程的多个功能块的组合。大型机还配备了一个大型数据库，用于存储测试脚本和结果。Testhead由集成电路测试仪、探针、源测量单元、发电机、分析仪等所需仪器等多种仪器组成。Testhead设计用于在生产过程中准确、快速地测试各种设备。它具有高速并行数据流、快速的板载内存、先进的并行特性、过电压和电流保护以及诊断特性。适配器主板提供测试所需的外围设备和控制功能。它通过集成的高速总线接口连接到testhead和大型机。这允许测试工具和外围设备之间的测试编程和连接。大型机具有灵活的显示体系结构,允许对测试进度进行远程访问监视。数据可以导出到基于PC的环境,也可以导出到外部设备（如USB棒、存储服务器和其他类型的设备）。这些输出选项使测试结果易于用于生产和分析。大型机还可以通过现代安全通信协议（如以太网）连接到专用系统。此连接允许基于图形用户界面的操作,从而简化了复杂的测试功能。该资产配备了一个用户友好的测试脚本编辑器,允许用户快速创建脚本,而且技术培训或体验非常简便。脚本编译器被设计用来拾取脚本错误，让用户确信他们将能够准确运行测试。TXP-HD是一种可靠、可靠且经济高效的测试模型,其设计和制造符合最高水平的安全和质量标准。它易于安装、易于使用,并能够快速高效地提供强大、准确的测试数据,使任何生产环境都能快速准确地测试性能最高的半导体。