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LORLIN Impact 半导体测试机

库存状态:现货

LORLIN Impact是为电气和电子行业设计的业界领先的最终测试系统。它非常适合测试PCB(印刷电路板)、FPC(柔性印刷电路)和LED灯。它具有多种功能,包括先进的数字视觉故障定位器(DVFL)、功能测试模式和阶梯测井/追踪系统。Impact的DVFL功能允许对主板上的所有组件进行详细的可视故障分析,从而使用户能够快速准确地识别缺陷的原因。此功能使用专门的光源来检测颜色对比度并快速高效地诊断电气问题。它也能够进行COMS(闭路照相机)的检查,这样可以在无法直接看到电路板时更快的自动检查。功能测试模式允许在不同的功能类别中进行测试,如数字、模拟和电源。用户可以定义和自定义哪些测试需要运行,以及创建或修改现有测试。此功能允许对复杂电路进行快速高效的测试,以及在测试过程中可能出现的任何意外结果。梯形测井系统用于识别和记录在给定板上执行的活动,从而便于跟踪错误和性能分析。此功能在处理开发和合规性测试时特别有用。LORLIN Impact的设计符合安全和可靠性的最高标准,符合UL、EN和CE标准。它非常易于使用,并具有用户友好的图形界面。类似向导的直观指南可帮助用户克服任何潜在困难,使其成为市场上最可靠、最有效的测试系统之一。其多功能性和高级功能使Impact成为电气测试不可或缺的工具。

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信息查询
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售后保障
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根据机器实际情况提供服务
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